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        0519-85100231

        技術(shù)資料

        TECHNICAL INFORMATION

        超聲波探傷儀探傷波形

        2012年08月23日

        超聲波在工件中傳播,遇到不同的介質(zhì)界面(如缺陷、工件底面或側(cè)面)時(shí),均會產(chǎn)生反射或折射,有些反射波將在熒光屏上顯示出來,這就是探傷波形。反射波形(反射波的形狀及高度)取決于反射面的性質(zhì)、工件的形狀及儀器(包括探頭)的工作狀態(tài)等。

               探傷波形是判斷缺陷的依據(jù)。即由反射波的位置確定缺陷的位置、由反射波的高度確定缺陷的大小、由反射波的形狀估計(jì)缺陷的性質(zhì)。因此,掌握超聲波的傳播規(guī)律和了解影響波形的因素,正確的識別波形都是很重要的。


         

        一、基本波形名稱

        基本波形的名稱及含義:

        發(fā)射波(T):發(fā)射的聲波(如圖a)

        缺陷波(F):由缺陷處反射回的聲波(如圖a)

        底波(B):由工件底面反射回的聲波(如圖a)

        側(cè)面波(W):由工件的側(cè)面或其他異型輪廓的底部(溝槽、油眼)反射回的聲波(如圖c)

        界面波(S):由浸在液體中的工件表面反射回的聲波

        直通波(K):用兩個(gè)直探頭或斜探頭在工件中的同一面或相對面探測時(shí),接收探頭收到的聲波(如圖d)

        橫孔反射波(H):從試塊橫孔處反射回的聲波(如圖g)

        平底孔反射波(V):從試塊平底孔處反射回的聲波(如圖f)


         

        基本波形的符號如下圖所示:

         

         





                熒光屏上各種反射波與發(fā)射波之間的距離,代表聲波從探頭到反射面所往返的時(shí)間,即代表探頭與反射面的距離。

            

        二、導(dǎo)出波形

                同一符號的波,產(chǎn)生在不同部位時(shí)(如缺陷波),可在符號的右下角加a、bc、d......等。同一符號的波,在同一部位產(chǎn)生多次反射時(shí),(如底波B或缺陷波F),可在符號的右下角加、 、 3……等。

                由工件同一部位反射的聲被,因傳播路徑不同或在邊界波型轉(zhuǎn)換,會產(chǎn)生遲到波,可在相應(yīng)符號的右上角加,““”一等。實(shí)際探測時(shí),熒光屏上的某些波形還不能解釋,這是人們尚未掌握其規(guī)律的緣故。


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